本文提出了误差截面相关性的简单检验，适用于各种面板数据模型，包括T短n大的平稳和单位根动态异构面板。所提出的检验是基于面板中各个回归的OLS残差的配对相关系数的平均，可用于检验任何固定阶p的截面相关性。以及没有假定截面单元先验排序的情况，分别称为CD(p)和CD检验。推导了这些试验的渐近分布，并分析了它们在不同备选方案下的幂函数。结果表明，对于固定的N和T，这些检验是正确的中心，并且对斜率系数和/或误差方差中的单个或多个断点具有鲁棒性。利用蒙特卡洛实验研究了该试验的小样本性质，并与Breusch和Pagan的拉格朗日乘子试验进行了比较。结果表明，试验在很小的样本中具有正确的尺寸和令人满意的幂，并且正如理论所预测的那样，对单位根和结构断裂的存在具有相当的鲁棒性。通过将CD检验应用于研究特定区域内各国之间和不同区域国家之间的人均产出创新依赖程度，可以说明CD检验的使用。研究结果表明，全球许多国家和地区的产出创新存在交叉依赖。